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德國菲希爾cms2/cms2 step臺式庫侖測厚儀
德國菲希爾cms2/cms2 step臺式庫侖測厚儀 德國菲希爾臺式儀器,使用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度,無論基材是金屬或非金屬,無論鍍層結(jié)構(gòu)是單鍍層還是多鍍層。電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀,應(yīng)用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層測厚、鎳層測厚、銅層測厚、鋅層測厚、錫層測厚、銀層測厚、金層測厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。
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COULOSCOPE CMS (庫侖測量系統(tǒng))
COULOSCOPE CMS (庫侖測量系統(tǒng)) COULOSCOPE CMS庫侖電解測厚儀使用庫侖方法測量鍍層厚度。直觀的菜單指引系統(tǒng),新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺,以及SPC統(tǒng)計能力
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Fischer庫侖法金屬多鍍層測厚儀
Fischer庫侖法金屬多鍍層測厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
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Couloscope CMS2庫侖測厚儀
Couloscope CMS2庫侖測厚儀 這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面積保持不變,鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系
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Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀
Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
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Couloscope CMS2 STEP庫侖測厚儀
Couloscope CMS2 STEP庫侖測厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 cms2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi), 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的
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