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Fischer Scope MMS PC2多功能測(cè)厚儀*
Fischer Scope MMS PC2多功能測(cè)厚儀* 評(píng)估: *省去了用戶在對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評(píng)估時(shí)常常需要進(jìn)行的復(fù)雜而大量的數(shù)學(xué)計(jì)算。統(tǒng)計(jì)特性可以以列表和諸如正態(tài)分布圖及柱狀圖的圖形形式查看和打印。我們提供一系列插入式測(cè)試模塊使其具有Z大的靈活性。
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FischerScope MMS 多功能測(cè)厚儀
FischerScope MMS 多功能測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE MMS 適于涂鍍層厚度測(cè)量和材料性能統(tǒng)計(jì)。它可用于手動(dòng)檢測(cè)樣品,也可用于過(guò)程控制和生產(chǎn)過(guò)程的定時(shí)檢測(cè)。菲希爾Fischer測(cè)厚儀FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀是一臺(tái)小巧和極其多用的的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng),有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)處理能力。模塊化的設(shè)計(jì)使用戶可以自己配置不同的測(cè)試模塊。
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Couloscope CMS2 STEP 庫(kù)侖法測(cè)厚儀
Couloscope CMS2 STEP 庫(kù)侖法測(cè)厚儀 COULOSCOPE® CMS STEP可以通過(guò)定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來(lái)方便地測(cè)出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過(guò)RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
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德國(guó)菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀
德國(guó)菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀 測(cè)量原理 這個(gè)系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過(guò)在控制電流條件 下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過(guò)程。所載入的電 流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面 積保持不變,鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。
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菲希爾FMP30氧化膜測(cè)厚儀
菲希爾FMP30氧化膜測(cè)厚儀 FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x,DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
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德國(guó)菲希爾FischerScope MMS PC2
德國(guó)菲希爾FischerScope MMS PC2 fischer涂層測(cè)厚儀,電導(dǎo)率儀,提供專業(yè)的德國(guó)菲希爾進(jìn)口儀器fischer大量現(xiàn)貨供應(yīng),產(chǎn)品齊全,品質(zhì)優(yōu),性價(jià)比高!專業(yè)值得信賴!涂層測(cè)厚儀,鍍層厚度測(cè)量?jī)x,涂鍍層厚度無(wú)損測(cè)量?jī)x,手持式涂鍍層測(cè)厚儀,表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x,油漆涂層測(cè)厚儀,便攜式涂層測(cè)厚儀。
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PhaScope PMP10 Duplex涂層測(cè)厚儀
PhaScope PMP10 Duplex涂層測(cè)厚儀 HASCOPE®PMP10用于測(cè)量PC板和電鍍表面上的涂層厚度的手持式儀器涂層厚度材料分析材料測(cè)試。PHASCOPE®PMP10普通涂層厚度測(cè)量?jī)x器手持式PHASCOPE®PMP10非常適合電鍍和印刷電路板(PCB)行業(yè)的質(zhì)量控制。
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德國(guó)Fischer DualScope MP0鐵鋁兩用測(cè)厚儀
德國(guó)Fischer DualScope MP0鐵鋁兩用測(cè)厚儀 采用根據(jù)DIN EN ISO 2360,ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應(yīng)方法,被用來(lái)測(cè)量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。mpo涂層測(cè)厚儀能自動(dòng)地識(shí)別被測(cè)材料并選擇適合的測(cè)試方法。
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