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MiniTest 720涂層測厚儀Elektrophysik進口供應(yīng)
MiniTest 720涂層測厚儀Elektrophysik進口供應(yīng) 用戶可以根據(jù)測量的需要選用不同的測厚儀,磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機一體型,探頭與主機分離型,前者操作便捷,后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測厚儀來測,測量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細(xì)的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度。
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MiniTest 600B-F3磁感應(yīng)測厚儀代理
MiniTest 600B-F3磁感應(yīng)測厚儀代理 篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術(shù)的精益求精。
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高精度QUINTSONIC7小型測厚儀
高精度QUINTSONIC7小型測厚儀 采用創(chuàng)新技術(shù)的QuintSonic 7是*個可以準(zhǔn)確測量GRP(熱固性塑料或玻璃鋼)和CRP(低溫鋼)工件厚度的測厚儀。此項創(chuàng)新技術(shù)是通過A型掃描圖像功能。不用將儀器連接到電腦就可以直接顯示圖表信息。從而*的實現(xiàn)了在任何情況下測量的可靠性,使QuintSonic 7成為Z理想的現(xiàn)場、實驗室或者車間測量的工具。
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小型MIKROTEST G6涂層測厚儀
小型MIKROTEST G6涂層測厚儀 篤摯儀器公司把儀表設(shè)備引進到中國,把專業(yè)的服務(wù)提供給用戶,能滿足* 客戶的精密測量要求。篤摯儀器公司始終致力于為機械制造、精密加工、科研教育等領(lǐng)域提供的儀器設(shè)備、的檢測技術(shù)篤摯儀器是一家在機械制造和儀器儀表行業(yè)擁有多年豐富經(jīng)驗的公司。我們把世界Z的;并為客戶提供實驗室及車間現(xiàn)場所需的 各類 檢測儀器,并提供專業(yè)、維護保養(yǎng)和維修服務(wù)。
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德國原裝MiniTest 70上??備N售
德國原裝MiniTest 70上??備N售 篤摯儀器公司把儀表設(shè)備引進到中國,把專業(yè)的服務(wù)提供給用戶,能滿足* 客戶的精密測量要求。篤摯儀器公司始終致力于為機械制造、精密加工、科研教育等領(lǐng)域提供的儀器設(shè)備、的檢測技術(shù)篤摯儀器是一家在機械制造和儀器儀表行業(yè)擁有多年豐富經(jīng)驗的公司。我們把世界Z的;并為客戶提供實驗室及車間現(xiàn)場所需的 各類 檢測儀器,并提供專業(yè)、維護保養(yǎng)和維修服務(wù)。
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Elektrophysik Minitest 1100涂層測厚儀真品代理商
Elektrophysik Minitest 1100涂層測厚儀真品代理商 篤摯儀器(上海)有限公司是專業(yè)的測量儀器、測量工具、精密量儀、模具檢具代理商,我公司本著“求實、誠信、互惠、雙贏”的經(jīng)營理念,堅持“客戶至上、品質(zhì)*”的宗旨服務(wù)于客戶。主要代理日本、瑞士、德國,美國的計量儀器、實驗室儀器。主營德國EPK精密量具、量儀的批發(fā)零售及維修業(yè)務(wù)。
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MiniTest 70系列涂層測厚儀德國EPK進口供應(yīng)
MiniTest 70系列涂層測厚儀德國EPK進口供應(yīng) MiniTest 70系列涂層測厚儀特點 ? 快速的測量鋼鐵上的非磁性涂鍍層0 … 3000 μm 非鐵金屬上的非導(dǎo)電涂層0 … 2500 μm ? 自動識別基體材質(zhì) ? 內(nèi)置探頭 ? 通用測量方法 ? 具有統(tǒng)計功能
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Elektrophysik德國MiniTest 730測厚儀優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商
Elektrophysik德國MiniTest 730測厚儀優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商 篤摯儀器(上海)有限公司代理的MiniTest 730測厚儀。SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,*的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。 SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術(shù)使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)*
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