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MiniTest 720測(cè)厚儀德國EPK經(jīng)典型號(hào)
MiniTest 720測(cè)厚儀德國EPK經(jīng)典型號(hào)按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握。SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性,都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。MiniTest 720測(cè)厚儀配有一個(gè)超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測(cè)量需求:如果您想單手測(cè)量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。
創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)
SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。
SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
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