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SIDSP®技術(shù)是由ElektroPhysik開發(fā)的。有了這項新技術(shù)，ElektroPhysik創(chuàng)新的涂層厚度測量的另一個新*。這是幾十年開發(fā)特殊傳感器和使用技術(shù)的經(jīng)驗的結(jié)果。 SIDSP代表“傳感器集成數(shù)字信號處理”，意味著特殊的微處理器（DSP）收集，過濾和處理傳感器頭中的測量值。
- 高于平均精度和重復精度
- 整個范圍內(nèi)的溫度補償
- 磨損保護，拋光傳感器磁極
- 高抗電磁干擾（EMC）
- 內(nèi)部特性曲線，zui多50個數(shù)據(jù)點
- 自動補償有色金屬情況下的導電值
- 用于各種測量工作的通用傳感器。
以數(shù)字形式發(fā)送的通信接口。 數(shù)字信號處理確保以防止信號噪聲（任何測量過程中發(fā)生的），以便獲得無干擾的測量信號。因此，讀數(shù)的變化是非常小的（模擬程序無法實現(xiàn)），是非常準確的讀數(shù)。可以得到的結(jié)果，通過使用測量臺。確保測量臺讀數(shù)是在*相同的位置。如果讀數(shù)總是在同一地點，幾乎任何變化都可以被排除在外。在相同的測量點，一組10個讀數(shù)，結(jié)果幾乎是相同。
SIDSP®技術(shù)，傳感器集成數(shù)字信號處理，利用這項新技術(shù)，ElektroPhysik為創(chuàng)新的涂層厚度測量創(chuàng)造了新的基準。高精度，的可重復性，高溫穩(wěn)定性以及出色的適應性，這些是SIDSP®的主要特性。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動校準程序，充分利用SIDSP®技術(shù)所提供的出色的基本傳感器特性。在制造過程中的的精度使得每個單獨的傳感器具有高度相同的特性。重復性讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾zui常見的是誤差的根源，保護測量系統(tǒng)和傳感器電纜免受這種干擾至關(guān)重要。與傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器為傳感器內(nèi)部的傳感器頭創(chuàng)建和控制激勵信號。返回信號被直接數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理以提供厚度值。該值通過傳感器電纜以數(shù)字方式傳輸?shù)斤@示單元。換句話說：在模擬測量系統(tǒng)的情況下，在信號傳輸期間不再有干擾。即使您的應用需要非常長的電纜 - 沒有問題 - 增加的抗干擾能力仍然存在長電纜延伸。
ElektroPhysik的SIDSP®傳感器實現(xiàn)了迄今為止的再現(xiàn)性。將傳感器放置在同一測量點上幾次，您將獲得*相同的結(jié)果 - SIDSP®傳感器的高性能的另一個證明。
采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術(shù)使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。
SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術(shù)，同時應用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機分析，等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個新的標準。
涂層測厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性。任何與測量相關(guān)的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的性能。
高度的SIDSP探頭特征曲線在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分，將測量錯誤降至zui低。
