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　　了解Surtronic S116粗糙度儀的參數(shù)選擇

　　為研究表面粗糙度對零件性能的影響和度量表面微觀不平度的需要，從20年代末到30年代，歐美等國等設(shè)計(jì)制作了輪廓記錄儀、輪廓儀，給從數(shù)值上定量評定表面粗糙度創(chuàng)造了條件。

　　30年代起，已對表面粗糙度定量評定參數(shù)進(jìn)行了研究，美國人提出了用距表面輪廓峰頂?shù)纳疃群椭С虚L度率曲線來表征表面粗糙度。1936年出版了表面粗糙度的專著，對表面粗糙度的評定參數(shù)和數(shù)值的標(biāo)準(zhǔn)化提出了建議。

　　但粗糙度評定參數(shù)及其數(shù)值的使用，真正成為一個(gè)被廣泛接受的標(biāo)準(zhǔn)還是從40年代各國相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布以后開始的，這樣的儀器設(shè)備就叫粗糙度儀，由于以前叫表面光潔度所以表面粗糙度儀人們又習(xí)慣的成為表面光潔度儀。

　　Surtronic S116粗糙度儀的參數(shù)怎樣選擇呢？

　　1.對于光滑表面和半光滑表面一般采用Ra作為評定參數(shù)。Ra值反映實(shí)際輪廓微觀幾何形狀特性的信息量大，而且Ra值用觸針式電動(dòng)輪廓儀測量比較容易。

　　2.對于極光滑和極粗糙表面，宜采用Rz作為評定參數(shù)。Rz值通常用非接觸式的光切顯微鏡測量。但Rz不如Ra對表面微觀幾何形狀特征反映的全面。

　　3.對不允許出現(xiàn)較大加工痕跡和受交變應(yīng)力作用的表面，應(yīng)采用Ry作為評定參數(shù)。Ry概念簡單、測量簡便，但Ry不如Ra或Rz反映全面。因此對于狹小表面，Ry具有實(shí)際意義。另外可按實(shí)際情況，Ry與Ra或Rz聯(lián)用，綜合控制表面粗糙度。

　　4.對密封性要求高的表面，可使用間距特性參數(shù)Sm和S。

　　5.對耐磨性要求高的表面可規(guī)定tp。